Китай FCM2000W Компьютерный тип Metallography Microscope Factory и производители

Metallographic Micoscope FCM2000W Type Type Image

Металлографический микроскоп компьютера FCM2000W Тип компьютера

Спецификация

FCM2000W ВВЕДЕНИЕ

Металлографический микроскоп компьютерного типа FCM2000W - это тринокулярный инвертированный металлографический микроскоп, который используется для идентификации и анализа комбинированной структуры различных металлов и сплавных материалов. Он широко используется на фабриках или лабораториях для литья качества, проверки сырья или после обработки материала. Анализ металлографической структуры и исследовательские работы по некоторым поверхностным явлениям, таким как распыление поверхности; Металлографический анализ стали, нерухозных металлических материалов, отливок, покрытий, петрографического анализа геологии и микроскопического анализа соединений, керамики и т. Д. В эффективных средствах для промышленных областей.

Механизм фокусировки

Применяется грубый и тонкий коаксиальный механизм с фокусировкой. и удобное изображение. Крупный ход регулировки составляет 38 мм, а точность тонкой регулировки составляет 0,002.

Механическая мобильная платформа

Он принимает крупномасштабную платформу в 180 × 155 мм и расположена в правом положении, что соответствует оперативным привычкам простых людей. Во время работы пользователя удобно переключаться между механизмом фокусировки и движением платформы, предоставляя пользователям более эффективную рабочую среду.

Система освещения

Система освещения кола Epi-Type с диафрагмой с переменной апертурой и регулируемой полевой диафрагмой в центре, принимает адаптивное широкое напряжение 100 В-240 В, высокая яркости 5 Вт, светодиодная светодиода длительного срока службы.

Таблица конфигурации FCM2000W

Конфигурация		Модель
Элемент	Спецификация	FCM2000W
Оптическая система	Оптическая система конечной аберрации	·
наблюдательная трубка	45 ° наклона, тринокулярная пробирная трубка, диапазон регулировки расстояния межпиллярного расстояния: 54-75 мм, коэффициент расщепления луча: 80: 20	·
окуляр	Высокая точка для глаз с большим планом поля PL10x/18 мм	·
	Высокая точка для глаз с большим планом поля PL10x/18 мм, с микрометром	O
	Высокая точка для глаз с большим полевым окуляром WF15X/13 мм, с микрометром	O
	Высокая точка для глаз с большим полевым окуляр WF20x/10 мм, с микрометром	O
Цели (Ахроматические цели с длинным планом)	LMPL5X /0.125 WD15.5 мм	·
	LMPL10X/0,25 WD8,7 мм	·
	LMPL20X/0,40 WD8,8 мм	·
	LMPL50X/0,60 WD5,1 мм	·
	LMPL100X/0,80 WD2,00 мм	O
конвертер	Внутреннее позиционирование с четырьмя отверстиями преобразователя	·
конвертер	Внутреннее позиционирование с пятью лунками преобразователя	O
Механизм фокусировки	Коаксиальный механизм фокусировки для грубой и тонкой регулировки в низком положении рук, инсульт на революцию грубого движения составляет 38 мм; Точность настройки тонкой регулировки составляет 0,02 мм	·
Этап	Трехслойная механическая мобильная платформа, область 180 ммх155 мм, правый контроль с низкой рукой, ход: 75 мм × 40 мм	·
Рабочий стол	Металлическая сцена (центральное отверстие φ12 мм)	·
Эпи-иллюминационная система	Система освещения кола Epi-Type, с диафрагмой с переменной апертурой и регулируемой центральной диафрагмой поля, адаптивным широким напряжением 100 В-240 В, одиночный 5 Вт теплый светодиодный свет, интенсивность света непрерывно регулируется	·
Эпи-иллюминационная система	Система освещения кола Epi-Type, с диафрагмой с переменной апертурой и регулируемой полем в центре, адаптивное широкое напряжение 100 В-240 В, галогенная лампа 6V30W, интенсивность света непрерывно регулируется	O
Поляризующие аксессуары	Плата поляризатора, фиксированная плата анализатора, 360 ° ровная плата анализатора	O
цветной фильтр	Желтый, зеленый, синий, матовые фильтры	·
Система металлографического анализа	Программное обеспечение для металлографического анализа JX2016, 3 миллионов камерных устройств, 0,5x адаптер -интерфейс, микрометр	·
компьютер	HP Business Jet	O

Примечание： "· «Стандарт ；»O"необязательный

JX2016 Программное обеспечение

«Профессиональный количественный анализ металлографического анализа изображения компьютерной операционной системы», настроенной с помощью системных процессов анализа металлографического изображения и сравнения, обнаружения, оценки, оценки, оценки, анализа, статистики и выходных графических отчетов собранных карт выборки. Программное обеспечение объединяет современную технологию анализа изображений, которая является идеальной комбинацией металлографического микроскопа и технологии интеллектуального анализа. DL/DJ/ASTM и т. Д.). Система имеет все китайские интерфейсы, которые являются кратким, ясным и простым в эксплуатации. После простого обучения или ссылки на руководство вы можете управлять им свободно. И он обеспечивает быстрый метод обучения металлографическому здравому смыслу и популяризации операций.

Программные функции JX2016

Программное обеспечение для редактирования изображений: более десяти функций, таких как получение изображений и хранение изображений;

Программное обеспечение изображения: более десяти функций, таких как улучшение изображений, наложение изображений и т. Д.;

Программное обеспечение для измерения изображений: десятки функций измерения, такие как периметр, область и процентное содержание;

Режим вывода: вывод таблицы данных, вывод гистограммы, вывод печати изображения.

Выделенные металлографические программные пакеты:

Измерение размера зерна и оценка (извлечение границ зерна, реконструкция границы зерна, отдельная фаза, двойная фаза, измерение размера зерна, оценка);

Измерение и оценка неметаллических включений (включая сульфиды, оксиды, силикаты и т. Д.);

Измерение и рейтинг содержания жемчуга и феррита; измерение и оценки грузильного графита железа;

Слор декарбурации, измерение слоя, измерение толщины поверхностного покрытия;

Измерение глубины сварки;

Измерение фазовой области ферритных и аустенитных нержавеющих сталей;

Анализ первичного кремния и эвтектики кремния с высоким кремниевым алюминиевым сплавом;

Анализ материала титанового сплава ... и т. Д;

Содержит металлографические атлазы почти 600 обычно используемых металлов для сравнения, отвечающие требованиям большинства единиц для металлографического анализа и проверки;

Ввиду непрерывного увеличения новых материалов и материалов импортированного уровня, материалы и стандарты оценки, которые не были введены в программное обеспечение, могут быть настроены и введены.