Китай FCM2000W Тип компьютера Металлографический микроскоп завод и производители |Чэньюй

FCM2000W Тип компьютера Металлографический микроскоп

Спецификация

FCM2000W Введение

Металлографический микроскоп компьютерного типа FCM2000W представляет собой тринокулярный инвертированный металлографический микроскоп, который используется для идентификации и анализа комбинированной структуры различных металлов и сплавов.Он широко используется на заводах или в лабораториях для определения качества литья, проверки сырья или после обработки материала.Металлографический анализ структуры и исследования некоторых поверхностных явлений, таких как поверхностное напыление;металлографический анализ стали, цветных металлов, отливок, покрытий, петрографический анализ геологии, а также микроскопический анализ соединений, керамики и т. д. В производственной сфере эффективные средства исследования.

Механизм фокусировки

Используется коаксиальный механизм фокусировки нижнего положения руки для грубой и точной настройки, который можно регулировать с левой и правой сторон, точность точной настройки высока, ручная регулировка проста и удобна, и пользователь может легко получить четкое изображение. и комфортное изображение.Ход грубой регулировки составляет 38 мм, а точность точной регулировки — 0,002.

Механическая мобильная платформа

Он использует крупномасштабную платформу 180 × 155 мм и установлен в правостороннее положение, что соответствует привычкам работы обычных людей.Во время работы пользователя удобно переключаться между механизмом фокусировки и движением платформы, предоставляя пользователям более эффективную рабочую среду.

Система освещения

Система освещения Kola эпитипного типа с диафрагмой с переменной апертурой и регулируемой по центру полевой диафрагмой, использует адаптивное широкое напряжение 100–240 В, высокую яркость 5 Вт, долговечную светодиодную подсветку.

Таблица конфигурации FCM2000W

Конфигурация		Модель
Элемент	Спецификация	ФКМ2000Вт
Оптическая система	Оптическая система с конечной аберрацией	·
смотровая труба	Наклон 45°, тринокулярный тубус, диапазон регулировки межзрачкового расстояния: 54-75 мм, коэффициент разделения луча: 80:20	·
окуляр	Окуляр PL10X/18 мм с большим полем обзора и высокой точкой зрения	·
	Окуляр с большим полем обзора PL10X/18 мм, с высокой точкой обзора, с микрометром	O
	Высокопольный широкопольный окуляр WF15X/13 мм с микрометром	O
	Высокопольный широкопольный окуляр WF20X/10 мм с микрометром	O
Объективы (ахроматические объективы с длинным фокусным расстоянием)	LMPL5X/0,125 WD15,5 мм	·
	LMPL10X/0,25 WD8,7 мм	·
	LMPL20X/0,40 WD8,8 мм	·
	LMPL50X/0,60 WD5,1 мм	·
	LMPL100X/0,80 WD2,00 мм	O
преобразователь	Преобразователь внутреннего позиционирования с четырьмя отверстиями	·
преобразователь	Внутренний позиционирующий преобразователь с пятью отверстиями	O
Механизм фокусировки	Коаксиальный механизм фокусировки для грубой и точной настройки при низком положении руки, ход на один оборот грубого хода 38 мм;точность точной регулировки 0,02 мм	·
Этап	Трехслойная механическая мобильная платформа, площадь 180 мм X 155 мм, правое нижнее управление, ход: 75 мм × 40 мм.	·
рабочий стол	Металлическая пластина столика (центральное отверстие Φ12 мм)	·
Система эпи-освещения	Осветительная система «Кола» типа Epi, с диафрагмой с переменной апертурой и регулируемой по центру полевой диафрагмой, адаптивное широкое напряжение 100–240 В, одиночная светодиодная лампа теплого цвета мощностью 5 Вт, плавная регулировка интенсивности света	·
Система эпи-освещения	Осветительная система «Кола» типа «эпи», с регулируемой апертурной диафрагмой и центральной регулируемой полевой диафрагмой, адаптивное широкое напряжение 100–240 В, галогенная лампа 6 В 30 Вт, плавная регулировка интенсивности света	O
Поляризационные аксессуары	Плата поляризатора, фиксированная плата анализатора, вращающаяся на 360° плата анализатора	O
цветной фильтр	Желтые, зеленые, синие, матовые фильтры	·
Система металлографического анализа	Программное обеспечение для металлографического анализа JX2016, устройство с 3 миллионами камер, интерфейс адаптера объектива 0,5X, микрометр	·
компьютер	бизнес-джет HP	O

Примечание：“· «стандартный；»O"необязательный

Программное обеспечение JX2016

«Профессиональная компьютерная операционная система для количественного металлографического анализа изображений», настроенная на процессы системы металлографического анализа изображений и сравнения в реальном времени, обнаружения, оценки, анализа, статистики и вывода графических отчетов собранных образцов карт.Программное обеспечение объединяет современные передовые технологии анализа изображений, которые представляют собой идеальное сочетание металлографического микроскопа и интеллектуальной технологии анализа.DL/DJ/ASTM и т. д.).В системе все интерфейсы на китайском, лаконичные, понятные и простые в управлении.После простого обучения или обращения к инструкции по эксплуатации вы можете свободно управлять им.И это обеспечивает быстрый метод для изучения металлографического здравого смысла и популяризации операций.

Программные функции JX2016

Программное обеспечение для редактирования изображений: более десяти функций, таких как получение и хранение изображений;

Программное обеспечение для обработки изображений: более десяти функций, таких как улучшение изображения, наложение изображений и т. д.;

Программное обеспечение для измерения изображений: десятки функций измерения, таких как периметр, площадь и процентное содержание;

Режим вывода: вывод таблицы данных, вывод гистограммы, вывод изображения на печать.

Специальные металлографические пакеты программного обеспечения:

Измерение и оценка размера зерна (извлечение границ зерен, восстановление границ зерен, однофазное, двухфазное, измерение размера зерен, оценка);

Измерение и классификация неметаллических включений (в т.ч. сульфидов, оксидов, силикатов и др.);

Измерение и оценка содержания перлита и феррита;измерение и рейтинг шаровидности графита из ковкого чугуна;

обезуглероженный слой, измерение науглероженного слоя, измерение толщины поверхностного покрытия;

Измерение глубины сварного шва;

Измерение площади фаз ферритных и аустенитных нержавеющих сталей;

Анализ первичного кремния и эвтектического кремния высококремнистого алюминиевого сплава;

Анализ материалов из титанового сплава... и т.д.;

Содержит металлографические атласы почти 600 часто используемых металлических материалов для сравнения, отвечающие требованиям большинства подразделений металлографического анализа и контроля;

Ввиду постоянного увеличения количества новых материалов и импортных материалов, материалы и стандарты оценки, которые не были введены в программное обеспечение, могут быть настроены и введены.